Une source innovante générant des impulsions de 60 picosecondes à la demande pour l’injection de fautes par laser sur les circuits intégrés.

Pourquoi utiliser une source laser picoseconde pour tester les circuits intégrés ?

Les nouvelles générations de microcontrôleurs, de SoC (system on chip) ou de FPGA fonctionnent à des fréquences de plus en plus élevées et intègrent des technologies de plus en plus fines.

Dans les domaines de l’évaluation sécuritaire ou de l’analyse de défaillance, l’injection de fautes par laser nécessite alors des lasers avec des durées d’impulsions de plus en plus courtes. Utiliser une source dans le domaine picoseconde ouvre un nouveau champ d’exploration. Il permet d’injecter des perturbations sur des temps de cycles beaucoup plus courts et d’obtenir une meilleure résolution spatiale pour l’obtention des effets recherchés sur le composant.

Pourquoi la source laser LFI Pico est-elle
particulièrement adaptée pour cette application ?

Le LFI Pico est une source laser innovante générant des impulsions optiques de 60 ps, développé spécifiquement pour l’injection de fautes par laser sur les circuits intégrés, que ce soit pour les tests sécuritaires ou l’analyse de défaillance.

La particularité de cette source par rapport à l’existant est sa capacité à générer des impulsions à la demande du mono-coup jusqu’à 10 MHz, à partir d’un trigger externe et surtout avec un très faible jitter (< 100 ps). Cette caractéristique permet à l’utilisateur un contrôle temporel extrêmement précis et prévisible de l’injection de l’impulsion sur l’échantillon et de synchroniser le laser à partir du composant électronique testé, et non pas l’inverse. Son architecture entièrement fibrée en fait une source laser particulièrement fiable et compacte.

Comment mettre en œuvre le laser LFI Pico pour l’injection de fautes ?

Une source laser performante et répétable est essentielle pour mettre en œuvre une attaque d’injection de fautes. Néanmoins, c’est toute la chaine optique dont le microscope de focalisation, le système de visualisation du composant mais aussi les platines de déplacement pour scanner l’échantillon qui doivent également garantir d’excellentes propriétés. La source LFI Pico est directement compatible avec l’ensemble des bancs laser ALPhANOV développés pour l’injection de fautes laser tel que le S-LMS (Single Laser Microscope Station) et le D-LMS (Double Laser Microscope Station), sans aucune modification. Ces bancs optiques ont démontré depuis de nombreuses années leur haut niveau de qualité, que ce soit par la transmission des optiques, la répétabilité des tables XYZ ou la performance du système de vision infrarouge pour la face arrière des circuits intégrés.

Caractéristiques du produit

• Durée d'impulsion : 60 ps
• Energie : jusqu'à 100 nJ par impulsion
• Impulsions à la demande du mono-coup à 10 MHz
• Laser monomode - spot circulaire, jusqu'à 1 μm
• Longueur d'onde 1 064 nm, adaptée à l'injection de fautes en face arrière
• Jitter : < 100 ps
• Architecture entièrement fibrée
• Compatibilité avec Python
• Directement compatible avec tous les systèmes de microscope ALPHANOV pour l'injection de fautes

Fiche produit

LFI Picosecond laser